Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"unit-tests"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Test Driven Development for FPGA Designs
 Halász, Dávid ; Strnadel, Josef (oponent) ; Šimek, Václav (vedoucí práce)
This bachelor's thesis describes, how test-driven development can be used in hardware, especially for FPGA development. The essential theory for understanding the context is described. Some available tools for assertion-based hardware verification and unit-testing are presented and demonstrated on a reference design. One of the introduced tools was selected and with that a test-driven developed SPI interface was created and successfully verified.
Úplný záznam
Test Driven Development for FPGA Designs
 Halász, Dávid ; Strnadel, Josef (oponent) ; Šimek, Václav (vedoucí práce)
This bachelor's thesis describes, how test-driven development can be used in hardware, especially for FPGA development. The essential theory for understanding the context is described. Some available tools for assertion-based hardware verification and unit-testing are presented and demonstrated on a reference design. One of the introduced tools was selected and with that a test-driven developed SPI interface was created and successfully verified.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English